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當(dāng)前位置：合肥重光電子科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>膜厚測量儀器
膜厚測量儀本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量，測量吸收或者透明襯底上薄膜的厚度以及折射率，同時提供樣品反射率，測量精度達(dá)到埃級的分辨率，測量迅速，操作簡單，界...
本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量，測量吸收或者透明襯底上薄膜的厚度以及折射率，同時提供樣品反射率，測量精度達(dá)到埃級的分辨率，測量迅速，操作簡單，界面友好，測...
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